光測系統裝置|塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司

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單粒子熒光診斷系統Osuka大冢

可以基于與 NIMS 共同開發的單粒子診斷方法* 進行測量。 * 與國立材料科學研究所、弘前直人研究員和武田隆研究員聯合研究
高速LED光學特性監視器LE Otsuka

它是一種可以與生產線的控制信號同步，高速在線評估 LED 光學特性的設備。 LE-5400 提供質量控制所需的光學特性信息，例如 NG 判斷和分類。
光譜輻照度測量系統Otsuka大冢

“光譜輻照度測量系統 IL100”評估光源的照度。 ?從光譜輻照度測量中高精度測量照度 ? 從紫外線到可見光和紅外線的寬測量波長范圍? 可選擇的照度頭適用于高斜入射特性等應用 ?光合作用研究必不可少的PFD和PPFD 可通過專用軟件進行測量和照明電源也是集體控制這個設備追求到精良的基礎照度測量。
紫外光譜儀Otsuka大冢蘇州售

評估光源在紫外線區域的輻射。 ? 通過光譜輻射度測量高精度測量亮度 ? 支持紫外線、可見光和紅外線的寬測量波長范圍 ? 可以進行光生物 **性評估它是一種可以測量紫外線亮度的有限設備。
紫外光譜輻照度測量系統Otsuka

“紫外分光輻照度測量系統IL100”評估光源在紫外區的輻照度。 ?從光譜輻照度測量中高精度測量照度 ? 從紫外線到可見光的寬測量波長范圍 ?可選擇的照度頭適用于高斜入射特性等應用 ?可以進行生物系統評估必不可少的PFD測量它是一種即使在紫外線區域也能實現高精度測量的設備。產品咨詢
紫外分光光度分布測量系統Otsuka

評估 UV LED 的光分布特性。 ?基于輻射強度/輻照度的光分布評估 ?通過光譜光分布評估每個波長的輻射強度可視化用于**和樹脂固化的光源的不均勻照射。
總輻射通量測量系統Otsuka大冢

評估 UV LED 的輻射通量。 ? 性能更高的紫外線 LED 的輸出評估 ? 溫度評估與溫度控制單元相結合支持紫外線 LED 的光學特性評估，預計將被**、凈化和樹脂固化。
總光通量測量系統 HM / FM Otsuka大冢

它測量從 LED 到照明的各種光源的總光通量。 ?積分球+分光鏡支持從總光通量到顏色測量的廣泛范圍。 ?可以通過控制光源的加熱/冷卻來評估溫度特性。繁瑣操作要求測量精度高集成半球，樣品組方便測量大功率激光光源瓦級對應測量系統對應任何場景總光通量測量多年經驗，滿足需求支持。
光譜配光測量系統GPOtsuka大冢電子

一種測量照明設備配光特性的裝置。 ?使用內部開發的分光鏡實現高精度測量！ -顏色可以與光分布數據一起測量！- 即使在光譜測量中也可實現相當于照度計類型的高速測量！ ?可根據配光測量結果進行照度分析！!! -符合標準測量系統！
彩色濾光片分光特性測量裝置OTSUKA大冢

彩色濾光片分光特性測量裝置OTSUKA大冢LCF SERIES 彩色濾光片分光特性測量裝置OTSUKA大冢LCF SERIES 彩色濾光片分光特性測量裝置OTSUKA大冢LCF SERIES
小角激光散射儀PP-1000

小角激光散射儀PP-1000 激光散射儀小角PP-1000 小角激光散射儀PP-1000 小角激光散射儀PP-1000
多檢體納米粒徑量測系統NANOSAQLA

多檢體納米粒徑量測系統NANOSAQLA 界達電位ELSZ 多檢體NANO粒徑測量系統多檢體納米粒徑量測系統NANOSAQLA
OTSUKA大冢界達電位ELSZ

OTSUKA大冢界達電位ELSZ 粒徑量測系統 OTSUKA大冢界達電位ELSZ

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