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GP-7 series 1000 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統 是光源單體和光學材料的配光的裝置.。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7series1000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7series1000
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MR-2000 OTSUKA大冢-動畫特性測量裝置MR-2000OTSUKA大冢-動畫特性測量裝置MR-2000OTSUKA大冢-動畫特性測量裝置MR-2000
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MPRT-2000 OTSUKA大冢-動畫特性測量裝置MPRT-2000OTSUKA大冢-動畫特性測量裝置MPRT-2000OTSUKA大冢-動畫特性測量裝置MPRT-2000
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HS-1000 OTSUKA大冢-高靈敏度分光放射光度計HS-1000OTSUKA大冢-高靈敏度分光放射光度計HS-1000OTSUKA大冢-高靈敏度分光放射光度計HS-1000
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GC-1 OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器 實現真正的黑屏！ 把黑色的差異數值化。 OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1
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RETS series OTSUKA大冢-單元間隙檢查設備 從反射型·透射型的液晶封入單元到彩色過濾空單元的廣泛對應 OTSUKA大冢-單元間隙檢查設備RETS seriesOTSUKA大冢-單元間隙檢查設備RETS series
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LCF series OTSUKA大冢-濾色器分光特性測量裝置 OTSUKA大冢-濾色器分光特性測量裝置LCF seriesOTSUKA大冢-濾色器分光特性測量裝置LCF seriesOTSUKA大冢-濾色器分光特性測量裝置LCF series
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OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統 熒光體1粒子的熒光特性可以測定的高靈敏度系統。 1從粒子的取出到測量的系統化。 可以測量10μm的粒子。 支持恒溫到600°C的溫度依賴性測量 OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統
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QE-5000 OTSUKA大冢-高靈敏度NIR量子效率測定系統 OTSUKA大冢-高靈敏度NIR量子效率測定系統QE-5000OTSUKA大冢-高靈敏度NIR量子效率測定系統QE-5000OTSUKA大冢-高靈敏度NIR量子效率測定系統QE-5000
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DF-1000 OTSUKA大冢-在線熒光體薄膜檢測系統 快速測量透過熒光的面內色度分布 OTSUKA大冢-在線熒光體薄膜檢測系統DF-1000OTSUKA大冢-在線熒光體薄膜檢測系統DF-1000OTSUKA大冢-在線熒光體薄膜檢測系統DF-1000
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QE-2100 OTSUKA大冢-量子效率測量系統 OTSUKA大冢-量子效率測量系統QE-2100OTSUKA大冢-量子效率測量系統QE-2100OTSUKA大冢-量子效率測量系統QE-2100
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QE-2000 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統QE-2000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統QE-2000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統QE-2000
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LE series OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器 是能夠使LED的光學特性評價與生產線的控制信號同步，在線內高速進行的裝置。 LE-5400提供NG判定和等級分類等質量管理所必需的光學特性信息。OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE series
